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天津市遠洋機電科技有限公司


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PDA微型光譜儀VS70-PDA

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產品簡介

VS70-PDA OEM 光電二極管陣列光譜儀是一種高性能緊湊型光纖耦合光譜儀,覆蓋 200 至 1000 nm 的寬光譜范圍。這種用于工業應用的 VS70 系統使用經過改進的 VS70 光學引擎。

詳細介紹

信噪比的 PDA 微型光譜儀

 

        VS70-PDA OEM 光電二極管陣列光譜儀是一種高性能緊湊型光纖耦合光譜儀,覆蓋 200 至 1000 nm 的寬光譜范圍。這種用于工業應用的 VS70 系統使用經過改進的 VS70 光學引擎,配備 Horiba 的 IV 型像差校正平場全息離子蝕刻凹面光柵,針對 UV-VIS 和線性光電二極管陣列進行了優化。


        該系統配備定制的多區域有序分類過濾器以消除更高階次,并采用單光學設計,可實現出色的成像、高靈敏度、高分辨率和低雜散光性能,適用于強光應用,例如發射、吸光度和反射率。 


對于 OEM 工業應用

工業強光應用的理想選擇,例如發射、吸光度和反射率
示例:

  • 制藥與生命科學

  • 半導體

  • 液相色譜

  • 環境、農業和能源

 

特征

  • 高光譜采集速度(高讀出速度 3.5 ms)

  • 從紫外到近紅外的寬光譜覆蓋范圍

  • 巨大的 PDA 全井高達 1 Ge–,比任何 CCD 深 100 倍以上

  • 高信噪比結合超低雜散光

  • 具有平滑變化的光譜響應的高紫外線靈敏度

  • 高吞吐量

  • 緊湊的尺寸堅固性和穩定性

 

OEM 光譜儀選擇指南

PDA微型光譜儀VS70-PDA 1.jpg


規格

一般光譜儀規格*

光譜覆蓋

標準:UV-VIS (200–860 nm),帶 477 l/mm 光柵,VIS (380–750 nm),帶 582 l/mm
光柵,UV-NIR (200–1050 nm),帶雙閃耀 365 l/mm 光柵
根據要求提供其他光譜范圍/可能需要不同的機械集成

光譜儀輸入

光纖耦合:FC或SMA;自由空間:12-25-37-50-62-75-100-125-150-200 μm 狹縫,
可根據要求提供其他選項

光譜分辨率

2 nm 用于 365 l/mm 光柵,1 nm 用于 477 l/mm 光柵,0.8 nm 用于 582 l/mm 光柵
(所有 25 μm 狹縫)
平均光譜
色散
365 l/mm 光柵為 30.9 nm/mm,477 l/mm 光柵為 23.7 nm/mm,
582 l/mm 光柵為 16.3 nm/mm

焦距

70 毫米

選項選用高檔傳感器:CMOS、BI CCD、PDA
輸入端口:SMA、FC、自由空間、自定義輸入

F/#

光圈/2.3

雜散光抑制
典型值(值)
0.01% (0.02%) 用于具有 300 μm 高 CCD 的 UV-VIS 配置,在 700 nm 處測量
(使用寬帶通 510 nm 濾光片,75 μm 狹縫寬度測量)
> 2.4 AU 線性范圍(5% 變化), 273 nm 10 mm 比色皿
和 D 2燈中的吸收峰。

波長準確度

≤ 0.2 nm(平均波長誤差)

軟件**

用于初始評估的 LabVIEW™ 采集軟件(為軟件集成提供的 DLL)

可滾動
檢測器選項和規格*
高靈敏度、高動態范圍線性光電二極管陣列
探測器型號Hamamatsu S10123-1024N 具有更高的紫外線靈敏度和
在紫外線區域和寬光敏區域平滑變化的光譜響應特性
傳感器格式1024 x 1 像素(可應要求提供 512 像素)
PDA 像素大小25 x 500 μm(可應要求提供更高的 2500 μm 版本)
PDA 活動區域25.6 x 0.5 毫米
掌上電腦QE見下圖
傳感器溫度未冷卻
頻譜率
滿井容量100 Me-(1 Ge- 可選)
讀出噪聲3,900 e-(典型值);5,250()
數字化16位
動態范圍 (FW/RN)
信噪比10,000:1(典型值)
非線性(
在每個系統上測量)
< 0.4%(校正后)
暗電流200,000 e-/pix/s(典型值);250,000 e-/pix/s()
溝通USB 2
環境條件工作溫度 15° C 至 40° C 環境
溫度 相對濕度 <70%(非冷凝)
存儲溫度 -25° C 至 45° C
電源要求由 Samtec 連接器供電,5 VDC
可滾動

* HORIBA Instruments 有持續產品開發的政策,并保留修改零件號、描述和規格的權利,
恕不另行通知。
**運行我們的采集軟件不需要 LabVIEW™ 許可證。


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